Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

Autoři

  • Z. Hájková Fyzikální ústav Akademie věd České republiky, Praha
  • A. Fejfar Fyzikální ústav Akademie věd České republiky, Praha
  • M. Ledinský Fyzikální ústav Akademie věd České republiky, Praha
  • V. Píč Fyzikální ústav Akademie věd České republiky, Praha
  • F. Křížek Fyzikální ústav Akademie věd České republiky, Praha
  • D. Šulc Vysoké učení technické v Brně, Brno
  • Z. Nováček Vysoké učení technické v Brně, Brno
  • P. Wertheimer Vysoké učení technické v Brně, Brno

Klíčová slova:

mikroskopie skenující sondou, skenovací tunelová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, modely, demonstrace, analogie, výukové materiály

Abstrakt

Contemporary chemistry, physics, as well as biology frequently deal with the structure of matter at nanoscale level. One of the most important techniques used for ima­ging and measuring surfaces at the nanoscale (sometimes even with atomic resolution) is the scanning probe microscopy (SPM). SPM is an important up-and-coming technique in both academic sphere and industry. For this reason, concepts underlying SPM should be mentioned in secondary education, at least for students with an interest in science and technical subjects. In order to introduce SPM into secondary science education, various teaching approaches might be followed. In this contribution, special attention is paid to simple models and analogies of SPM to illustrate the basic SPM principles.

Stahování

Publikováno

15.02.2016

Jak citovat

Hájková, Z., Fejfar, A., Ledinský, M., Píč, V., Křížek, F., Šulc, D., Nováček, Z., & Wertheimer, P. (2016). Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou. Chemické Listy, 110(2), 153–159. Získáno z http://chemicke-listy.cz/ojs3/index.php/chemicke-listy/article/view/238

Číslo

Sekce

Články

Nejaktuálnější články stejného autora (stejných autorů)